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膜厚仪在不同环境下影响要素有哪些

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响(在实际使用中，低碳钢磁性的改变能够认为是轻的)，为了防止热处理和冷加工要素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

2、基体金属电性质

基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率与其资料成分及热处理办法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。

3、基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响。

4、边际效应

本仪器对试件外表形状的陡变灵敏。因而在靠近试件边际或内转角处进行丈量是不牢靠的。

5、曲率

试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的削减明显地增大。因而，在弯曲试件的外表上丈量是不牢靠的。

6、试件的变形

丈量头会使软覆盖层试件变形，因而在这些试件上测出牢靠的数据。

7、外表粗糙度

基体金属和覆盖层的外表粗糙程度对丈量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙外表会引起系统误差和偶然误差，每次丈量时，在不同方位上应添加丈量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还有必要在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个方位校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除掉覆盖层后，再校对仪器的零点。

8、磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地搅扰磁性法测厚工作。

9、附着物质

本仪器对那些妨碍丈量头与覆盖层外表紧密触摸的附着物质灵敏，因而，有必要铲除附着物质，以保证仪器丈量头和被测试件外表直触摸摸。

10、丈量头压力

丈量头置于试件上所施加的压力大小会影响丈量的读数，因而，要坚持压力恒定。

11、丈量头的取向

丈量头的放置方式对丈量有影响。在丈量中，应当使丈量头与试样外表坚持垂直。

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设备检定和校准的区别解析
检定和校准是量值溯源的主要的两个手段，但是他们存在很大的区别，本文为大家总结主要的区别：

  (1)目的不同

  校准的目的是对照计量标准，评定测量装置的示值误差，确保量值准确，属于自下而上量值溯源的一组操作。这种示值误差的评定应根据组织的校准规程作出相应规定，按校准周期进行，并做好校准记录及校准标识。

  校准除评定测量装置的示值误差和确定有关计量特性外，校准结果也可以表示为修正值或校准因子，具体指导测量过程的操作。

  检定的目的则是对测量装置进行强制性评定。这种评定属于量值统一的范畴，是自上而下的量值传递过程。检定应评定计量器具是否符合规定要求。这种规定要求就是测量装置检定规程规定的误差范围。通过检定，评定测量装置的误差范围是否在规定的误差范围之内。